FT110A

Descripción del equipo

 

Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos.

El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica.
 

FT110A

  • Marca Hitachi
    Tipo de producto Analizador XRF
    Aplicación Sobre mesa